세미나/포럼
[세미나/포럼] [2018.3.30금]공동기기센터 전자현미경 세미나 안내
- 세미나/포럼
- 교내
- 곽현정
- 2018-03-21
최신 전자 현미경 분석기술 런천 세미나
공동기기센터에서는 최신 전자 현미경 분석기술 런천 세미나를 개최하고자 합니다. 표면분석(FE-SEM) 분야의 관심 있는 기업체, 학생, 교수님들께서는 참석하여 주시면 감사하겠습니다.
1. 일 시 : 2018년 3월 30일(금) 10:00 – 12:00
2. 장 소 : 아주대학교 에너지센터 101호
3. 참가신청 및 문의처 : 자이스 코리아 강효림 대리 (02-3140-2729, hyolim.kang@zeiss.com)
4. 세부일정 : FE-SEM, FIB, XRM 최신 분석기술 및 응용법
5. 대 상 : 교내 및 외부 기관 총 50명 내외
※ 상기 교육 일정 및 내용은 사정에 따라 일정이 변경될 수 있습니다.
6. 참가신청
신청방법 : 신청서 작성 후 메일로 신청 (접수처 : hyolim.kang@zeiss.com)
신청기한 : 2018년 3월 28일
참가문의 : 자이스 코리아 강효림 대리 (02-3140-2729)
※ 안내 사항
-강의와 실습은 무료로 제공됩니다.
-인원은 강의 50명 선착순으로 받습니다.
※ 사전 등록자에 한하여 참가 가능하며, 선착순 마감 될 수 있음을 알려 드립니다.(교육비,중식,교재비 무료)
관심있는 분들의 많은 참석 부탁드립니다.
감사합니다.